光电产品可靠性测试领域，高加速温湿度应力测试，俗称HAST测试， 高加速温度和湿度应力测试需要使用光电产品高加速温湿度试验箱，用于评估电光电产品的可靠性和耐用性。 技术参数： 设计特点： 1、最新优化设计，美观大方，做工精细。 2、对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。 3、采用7寸真彩式触摸屏，拥......

高压蒸煮高温高湿试验箱用于产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的耐厌性、气密性。下面，我们来了解一下高压蒸煮高温高湿试验箱技术要求。 设备名称：环仪仪器 高压蒸煮高温高湿试验箱 技术性能： 温湿度压力对照表： 1）温度为110℃时 压力是0.5kg/cm² 2）温度为121℃时 ......

高加速高压蒸煮湿热试验箱用于评估非密封封装固态设备在正常（环境）运行期间可能遇到潮湿环境的可靠性。HAST 也称为压力锅测试 (PCT) 或不饱和压力锅测试，其目的是通过将测试室内的水蒸气压力提高到远高于样品内部水蒸气压力的水平来加速水分渗透到样品内部，以评估样品的抗湿性。 下面是高加速高压蒸煮湿热试验箱常见的高加速温度和湿度应力测试讲解。 高加速温度和......

高压蒸煮试验箱用于多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性，气密性。待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，从而判断样品的抗湿热性能。 测试方法： IEC 60068-2-66 (1994-6)环境试验。第 2 部分：试验方法-......

以往半导体厂商依据ICE标准（85%rh相对湿度85℃热环境）对半导体元件进行长时间（＞1000hrs）静态老化，使其失效周期加速显现。JESD22-A110高加速HAST试验箱的研发，是为了解决以上超长的实验周期，下面，我们结合实际使用要求，来看看高加速HAST试验箱的技术要求。 试验设备：环仪仪器 JESD22-A110高加速HAST试验箱 产品特性......

随着电子技术的飞速发展。半导体元器件作为组成各种电子电路的核心元件，不断应用于各种严酷恶劣的环境。为了模拟更严酷的条件来缩短测试周期和即时的电气特性跟踪监控的方法，行业内会使用HAST高加速应力湿热试验机来进行高加速应力试验，下面我们来探讨一下高加速应力湿热试验机在半导体二极管上的测试应用。   半导体元件二极管的加速试验： 试验设备：环仪仪......

JESD22高加速应力试验箱用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。 相关实验标准： GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A......

根据国际半导体标准化组织（JEDEC）的要求，半导体设计和制造企业可以自行评估旗下产品的可靠性，偏压高温高湿试验则是其中一项重要试验项目，偏压高温高湿试模拟了“85/85”稳态湿度寿命试验(JESD22-A101)的失效机理，即在让元件长时间承受电气性stress高温（85℃）、高湿（85%RH）环境条件，至少运行1000h，评估元件......

根据国际半导体标准化组织（JEDEC）的要求，半导体设计和制造企业可以自行评估旗下产品的可靠性，偏压高温高湿试验则是其中一项重要试验项目，偏压高温高湿试模拟了“85/85”稳态湿度寿命试验(JESD22-A101)的失效机理，即在让元件长时间承受电气性stress高温（85℃）、高湿（85%RH）环境条件，至少运行1000h，评估元件......

半导体行业偏压湿热试验箱的设计，符合实验条件模拟了“85/85”稳态湿度寿命试验(JESD22-A101)的失效机理，即在让元件长时间承受电气性stress高温（85℃）、高湿（85%RH）环境条件，至少运行1000h，评估元件的电力和机械性性能。 相关标准： AEC-Q101：汽车电子分立器件质量标准，适用于汽车电子元件的可......

存储产品的高温老化就是通过让存储产品进行高温的工作，测试其读写是否正常，来评价存储产品的老化性能以及使用寿命。试验过程可以使用高温存储老化测试箱，下面我来看看是如何测试的。 半导体存储产品老化测试： 试验设备：环仪仪器 高温存储老化测试箱 测试原理：模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部......

光电模块是一个整体集合，其中包含许多电子元器件，其中以LED最为重要，是光电模块工作的核心器件。光电模块在高温下进行加速寿命试验必须确定一系列的参数，包括(但不限于)：试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场H环境H、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β＜1表示早期故障，β＞......