变压器真空烘干设备运用自动化技术进行控制加热与抽真空，支持的变压法真空干燥工艺充分考虑了在干燥过程中的出水原理及加热过程，避免了绝缘材料表面“绝干层”的形成，内部与表面温度均匀，出水过程更加合理。从而使干燥时间大幅度缩短，是110KV级以下电压等级油、纸组合绝缘变压器、线圈干燥处理的理想工艺及设备。 下面，我们来了解一下变压器真空烘......

在变压器真空干燥设备中，由于配置水环泵所能达到的真空度无法满足变压器干燥的要求，大多配置滑阀泵或旋片泵。然而，由于于燥过程中存在大量水分，泵油乳化情况严重，有的甚至一个工艺过程都无法完成便需换油。 为了解决上述问题，我们提出了以下解决方案，供大家参考。   产品名称：环仪仪器 变压法真空干燥罐   真空系统配置解决方案：......

变压法真空干燥设备是一种高效、自动化的干燥设备，主要用于变压器、线圈、电机及电容器的真空干燥和绝缘处理。 ​   工作原理： 变压法真空干燥设备结合了真空环境与加热变压工艺，通过罐内对流换热、传导换热和低压辐射三种方式对器身及线圈进行加热，同时实现变压加热和降压蒸发两个关键工艺过程，从而提高干燥效率并保证内部与表面温度均匀。 技术参数......

光模块LD芯片双温检测系统主要用于检测 LD 芯片在低温、常温和高温下的光电性能。设备可在 -40℃~100℃温度范围内，高保真完成芯片的正光与背光 LIV、光谱及出射光束特性测试。下面，我们来了解一下该产品的主要特性。   产品名称：环仪仪器 光模块LD芯片双温检测系统   一、主要功能： 1.支持产品类型：兼容客户指......

虽然LD转换效率很高，但是由于其内部存在各种非辐射复合损耗、自由载流子吸收等损耗机制，这说明有部分电功率转化为热量，并导致LD有源区的温度升高。本文就对LD芯片的热特性进行测试，研究其特性变化规律。   LD芯片的热特性测试： 试验设备：环仪仪器 LD/PD芯片高速双温测试机 测试过程： 设定其工作模式为制冷模式，起始温度为20℃......

光模块LD芯片测试机用于对LD芯片的电气和光学特性进行检测、判定与分选。该产品具有测试速度快、温控精度高，测试数据的再现性和相关性稳定可靠、数据准确等优点。   技术参数：   发散角测试（选配）: 快轴发散角 测试范围:±60° 慢轴发散角 测试范围:±60° 分......

半导体LD激光器芯片是光纤到户网络架构中的核心器件，但它的寿命和可靠性成为制约其发展的重要瓶颈。目前的有效方法是对半导体激光器进行早期失效的评估，采用 Burn-in 老化。下面，我们来了解一下Burn-in老化的原理。   试验设备：环仪仪器 LD器件高低温测试台   试验目的： 几乎所有的激光器都会经历一个加速老化的......

半导体激光器(Laser Diode，简称LD)是以半导体材料为工作物质的一类激光器，为检测LD芯片，需要使LD芯片与光纤耦合，在LD激光芯片温度试验系统进行常规的高温、低温、常温和光电性能检测。 在LD激光芯片的高温检测中，常常会引起失效。下面，我们就LD芯片的高温失效分析，做出以下研究，下面是主要研究内容。   LD芯片高温失效分析： ......

LD激光芯片测试设备是一款用于光电LD芯片光电性能检测，可测试长波长激光器芯片的低温、常温、高温条件下的前光、背光的LIV参数和光谱参数。 设备自动化程度高，图像算法智能，支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别，有利于LD激光芯片提高测试效率。     系统架构： 系统由上料模组、高/低温测试模组、相机/探......

在半导体激光器芯片生产过程中，老化试验（Burn-in Test）是筛选早期失效器件、提高产品可靠性的重要环节。下面，我们来看看激光器芯片是怎么做高温测试的。   激光器芯片高温测试方法： 试验设备：环仪仪器 激光器芯片双温测试台   老化温度：100℃ 老化电流：180mA   老化过程： 步骤1：抽......

激光器（LD）芯片亦称激光芯片，无论是小功率的激光发射器还是要求较高的激光通信芯片，都需要在LD芯片双温区测试设备火种进行芯片的老化和可靠性的测试。LD芯片双温区测试设备由多个模块组成，下面，我们来了解一下其中的一些主要模组的作用。   产品名称：环仪仪器 LD芯片双温区测试设备   主要技术参数：  ......

激光器芯片低温测试系统是针对半导体 LD 激光器在低温、常温、高温三个不同温度下进行的光电特性 LIV 扫描测试、光谱扫描测试参数测试。集光、机、电、软、算于一体的复杂系统，通过集成芯片ID扫描、上料、运输、高/低温控制、测试、下料、分拣归类功能单元，可以适应不同类型半导体激光器 ( DFB、EML、EML+SOA )裸Die芯片及CoC芯片光电特性进行检测......