连接器高温寿命试验箱用于确定连接器在高温条件下使用和（或）储存的适用性。试验中通过温度逐步升高，并使样品经受足够长时间的高温以达到温度稳定状态，从而评价连接器的适用性与可靠性。   试验概述： 将样品置于箱温为环境温度的试验箱中。然后将温度以不超过1℃/min的速率升到试验温度，并保持在该温度下至规定的持续时间。保温结束时，样品保留在......

FAU光纤阵列高温寿命试验箱用于评估光纤阵列在高温干燥环境下的性能稳定性，主要涉及光纤的光学、机械和热学特性。通过试验确认光纤在极端温度条件下能否保持传输性能和耐久性。   满足标准： 光纤试验方法规范第51部分：环境性能的测量方法和试验程序—干热 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-18部分：试验干热&m......

透镜光学器件高温寿命试验箱主要用于透镜光学器件（无源器件）承受实际使用、贮存和（或）运输中可能遇到的持续高温（干热）环境条件下的适应性。   试验描述： 将待测试样品置于环境温度的试验箱内，随后，以平均速率不超过1℃/min（不超过5min的平均值）的速率，逐渐将试验箱温度提升至预设试验温度，并按规定的持续时间保持此温度。 待温度保......

高速电芯片高温寿命试验箱主要用于高速电芯片的鉴定和可靠性检验。该试验主要描述随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。   满足标准： GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命 IEC 60749-23......

散热器高温寿命试验箱满足《GB 7423.1 半导体器件散热器 通用技术条件》的标准要求，用于检测散热器的耐热性。试验箱采用风机循环送风方式，风循环均匀高效。   试验标准：GB 7423.1 半导体器件散热器 通用技术条件   技术参数：   试验要求： 散热器的耐热性试验，应按GB 2423.2......