高速PCB霉菌试验箱用于评估PCBA在高湿度和适宜霉菌生长条件下抵抗霉菌腐蚀的能力，试验采用恒定的温度和湿度环境条件，其中温度为 30℃、相对湿度为 95%。   满足标准： GB/T 2423.16-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉 GJB 150.10A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第10部分......

交换机端口盐雾试验箱可以模拟含盐大气对光电子器件暴露表面影响的加速试验，因为盐能降低金属材料和（或）非金属材料的性能。试验箱带有耐腐蚀的支撑器件夹具、盐溶液槽、盐雾化装置，具备温控功能。试验箱内所用材料应不会影响盐雾的腐蚀效果。   试验标准： YD/T 6449-2025 通信用非气密光电子器件可靠性试验方法   技术......

连接器盐雾试验箱满足《GB/T 12507.1 光纤光缆连接器第1部分：总规范》标准中“4.5.26腐蚀性大气（盐雾）”的要求，通过盐雾试验比较类似结构的样品抗盐雾所致性能降低的能力，评价保护涂层的质量和一致性。   满足标准： GB/T 12507.1 光纤光缆连接器第1部分：总规范 IEC68-2-11 ......

FAU光纤阵列盐雾试验箱用于考核纤维光学器件处于可控盐雾大气环境中抗腐蚀的能力。试验按GB/T 2423.17 的试验Ka进行，样品暴露在35℃的盐雾试验箱中，试验过程中样品为非工作状态，通过试验评价光纤阵列防护层的质量和均匀性。 技术参数： 试验方法： 1.盐溶液的配制 每次将20 L蒸馏水倒人一塑料桶内,对水的电导率及pH值进行测......

透镜光学器件盐雾试验箱用于评估光学及其他功能性涂（镀）层的抗盐雾腐蚀的能力，通过盐雾试验，提早发现材料组合的不合理性。试验箱可以维持35±2℃，顶部与水平方向倾斜30°以上，凝结的水滴不会从上面和侧壁滴落到试样上。   技术参数：   试验条件 1.温度 试验期间，暴露区里的温度为35℃&......

高速电芯片盐雾试验箱的试验依据《GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》的要求进行，通过盐雾试验确定半导体的耐腐蚀能力。 满足标准： GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 GB/T 10125 人造气氛腐蚀试验盐雾试验 GB/T4589.1 半导体器件第10部分：分立器......

高速PCB盐雾试验箱用于测试高速PCB耐腐蚀性能，高速PCB板进行盐雾试验的时候，需要控制其摆放角度，并且其表面不能积聚过多盐水，否则会影响腐蚀速率，导致测试结果失真。   技术参数：   试验方法： 1.按照 GB/T 2423.17-2008《电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验 Ka:盐雾》标准进......

无源器件盐雾试验箱依据《GB/T 18310.26 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-26部分：试验 盐雾》标准的要求设计，用于评估光纤连接器、适配器及光分路器等无源器件在海洋性或腐蚀性大气环境中的抗腐蚀能力与结构完整性。   技术参数：   试验目的： 比较相似结构纤维光学器件处于可控盐雾大气......

光芯片盐雾试验箱用于确定半导体器件耐腐蚀的能力。其试验原理是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验，适用于工作在海上和沿海地区的器件。   试验标准： GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 技术参数：   试验预处理： 若规定了预处理，试验样品在进行盐雾试验之前，......

光引擎高温寿命试验箱满足《Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可靠性保证要求》标准中“试验 3.3.3.1 高温工作测试”的要求，用于验证光引擎的长期高温耐受性能。   试验标准： Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可......

连接器高温寿命试验箱用于确定交换机端口在高温条件下使用和（或）储存的适用性。通过试验判断塑料外壳或尾套受热变脆、软化、开裂等现象，通过这些现象帮助工程师在研发过程中对产品进行改善。 试验标准： Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可靠性保证要求   技术参数： 试验概述： 将......

光纤高温寿命试验箱用于确定光纤（包括光纤带和光纤组件）在高温、低湿度（干热）环境储存或使用条件下的适应性。通过长时间的高温暴露，判断光纤的衰减（Attenuation）是否出现增大，或者引起涂覆层老化、剥离等现象。   技术参数：   试验样品要求： A1类光纤应至少为1000m，对B类光纤应至少为2000m。 ......