散热器高温寿命试验箱满足《GB 7423.1 半导体器件散热器 通用技术条件》的标准要求，用于检测散热器的耐热性。试验箱采用风机循环送风方式，风循环均匀高效。   试验标准：GB 7423.1 半导体器件散热器 通用技术条件   技术参数：   试验要求： 散热器的耐热性试验，应按GB 2423.2......

交换机高温寿命试验箱可用于交换机的高温环境贮存以及高温环境连续工作性能等测试，其设计满足《GB/T 30094工业以太网交换机技术规范》、《YD/T 1141 以太网交换机测试方法》等标准的要求。   满足标准： GB/T 30094-2013 工业以太网交换机技术规范 YD/T 1141-2022 以太网交换机测试方法 &nbs......

光模块高温寿命试验箱是对光模块进行寿命预测的试验设备，其特点是在不改变电子元器件失效机理的前提下，利用加大应力的方法来加快寿命测试。加速寿命试验的方法主要包括恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。 技术参数： 老化模型： 加速寿命试验的参数化模型有阿伦尼斯模型、艾林模型、逆幂律模型和多应力加速模型等。 试验......

高速PCB高温寿命试验箱用于印制电路板（Printed Circuit Board，简称 PCB）的ALT高温加速寿命试验，通过模拟高温使用环境，加速暴露PCB的潜在失效模式。   技术参数：   高温加速试验因子公式：   式中: TAF为高温加速因子，无量纲; L(T2) PCB是温度 T......

交换机端口抗潮湿循环试验箱用于测试网络端口在潮湿环境中的耐用性。其原理是模拟温度和湿度的所产生凝露（小水滴）和干燥交替过程，强制湿气进入端口的微小缝隙，从而判断交换机端口的耐腐蚀与密封性能。   技术参数：   测试步骤： 1） 将交换机端口放入抗潮湿循环试验箱内。 2） 将抗潮湿循环试验箱设置为温度 40℃，......

无源器件高温寿命试验箱用于确定纤维光学器件承受实际使用、贮存和（或）运输中可能遇到的持续高温（干热）环境条件下的适应性。 技术参数：   试验概述： 试验按IEC 60068-2-2试验Bb进行，将样品置于环境温度的试验箱中。然后以不超过1℃/min（不超过5min的平均值）的速率将温度升至试验温度，按规定的持续时间保持此温......

光芯片高温寿命试验箱用于确定光电子器件、光芯片、光模块等光电器件的高温加速老化失效机理和工作寿命。 技术参数： 试验条件： 试验温度：（85±2）℃（组件或模块），或（70±2）℃（组件或模块），或（175±2）℃（光电二极管）； 工作偏置：正常工作偏置（不限于）； 试验时间：5000h(不......

光引擎抗潮湿循环试验箱是用于光引擎（Optical Engine）、硅光模块、CPO（共封装光学）、高速光通信器件等产品在高温、高湿、低温及温湿度交变环境的可靠性，通过试验，验证光引擎在湿热循环条件下的光学性能、电气性能及封装性能。   技术参数：   测试步骤： 1.试验前，对受测样品做必要的预处理。 2.受......

光纤抗潮湿循环试验箱适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、购存和（或）运输过程中可能发生的湿热环境条件下的适应性能。   该程序主要用于观察在给定的湿热条件期间高湿度的影响效应。吸湿可能导致纤维光学器件出现膨胀使功能劣化，引起机械强度下降和其他重要机械性能变化，同时光学性能也可能降低。虽然该程序不一定能模拟热带环境试验，但可......

FAU光纤阵列抗潮湿循环试验箱用于FAU光纤阵列抗的耐湿热性评定试验。该试验箱由试验舱、冷冻系统、水箱循环系统及电器箱组成。试验箱能容纳40个试样同时进行试验。满足《YD/T 1618 多芯光纤(缆)扇形分 支连接器技术要求和测试方法》标准的要求。   满足标准：YD/T 1618 多芯光纤(缆)扇形分 支连接器技术要求和测试方法 &......

连接器抗潮湿循环试验箱用于确定连接器在高相对湿度条件下使用和（或）储存的适用性。本程序主要用于对给定周期内恒定温度下高湿度的影响进行观察。   技术参数：   试验概述： 将样品置于试验箱中，在规定持续时间内承受相对湿度为93%的40℃湿热环境的作用。 试验条件： 温度：40℃ 相对湿度：93% 暴露时间......

透镜光学器件抗潮湿循环试验箱用于考核纤维光学互连器件和无源器件的耐湿性能，通过试验暴露因冷热交替和反复冷凝所引起的潜在缺陷，评估器件封装结构、密封性能及光电性能的稳定性，为产品在通信网络、数据中心等应用环境中的长期可靠运行提供依据。   技术参数：   试验条件： 普通要求：温度75℃，相对湿度95%; 加严要......