《GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在高温高湿环境下的可靠性和适应性。该标准规定了强加速稳态湿热试验的方法和要求。 强加速稳态湿热试验（HAST）是一种常用的环境应力试验方法，用于模拟高温高湿条件下的工作环境。在试验中，半导体器件被......

《GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在低气压环境下的可靠性和适应性。该标准规定了低气压试验的方法和要求。 一、范围： 本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料......

《GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在盐雾环境下的耐蚀性和可靠性。该标准规定了盐雾试验的方法和要求。 一、范围： GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速......

《GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在振动环境下的可靠性和性能稳定性。该标准规定了扫频振动试验的方法和要求。 一、范围： GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。 本试验与G......

《GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在温湿度贮存条件下的性能和可靠性。该标准规定了温湿度贮存试验的方法和要求。 一、范围： 本文件规定了评价半导体器件耐高温高湿环境能力的试验方法。 本文件用来评价塑封半导体器件和其他类型封装半导体器件的芯片金属化......

JEDEC曾经是电子工业联盟，1999年，JEDEC独立成为行业协会，抛弃了原来名称中缩写的含义，目前的名称为JEDEC固态技术协会。固态技术协会发布的相关标准为JESD22测试标准。 JESD22标准半导体元件恒温恒湿实验箱，可用于JESD22-A100标准的循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试、JESD22-A101标准的稳态温度-湿度偏差寿命测试。......

半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。其作用主要对半导体元器件进行湿热存储、高温高湿试验，这些试验一般会使用到半导体元件恒温恒湿实验箱。 半导体元件恒温恒湿实验箱在实际应用中，会涉及到以下标准： 1. GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存 ......

一、产品简介： 半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。它们提供精确的温度和湿度控制，以满足半导体元件在不同环境条件下的性能和可靠性要求。   二、产品用途： 根据相关标准，需要对半导体元器件进行湿热存储、高温高湿试验，这些试验需要用到半导体元件恒温恒湿实验箱。 三、满足标准： ......

《GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在高温工作条件下的寿命和可靠性。该标准主要描述了高温工作寿命试验的方法和要求。 一、范围： GB/T 4937的本部分用来确定偏置条件和温度对固态器件随时间的影响。本部分模拟器件在加速试验条件下工作，主要用于......

《GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于半导体器件的机械和气候试验。该标准主要描述了使用双液槽法进行快速温度变化试验的方法和要求。 一、范围： GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又......

JB/T 12064-2014是中国国家标准，题为"高海拔环境绝缘子覆冰（雪）人工模拟方法"（Artificial Simulation Method for Insulator Icing in High Altitude Environment）。该标准规定了在高海拔环境下对绝缘子进行人工模拟覆冰（雪）试验的方法和要求。 一、范围......

GB/T 4585-2004是中国国家标准，题为"交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验"（Artificial Polluted Test for High Voltage Insulators in AC Systems）。该标准规定了在交流系统中使用的高压绝缘子进行人工污秽试验的方法和要求。 一、范围： 本标准适用于系统最高电压1k......