GB/T 7762-2014是中国国家标准，标题为《硫化橡胶或热塑性橡胶 耐臭氧龟裂 静态拉伸试验》（Static tensile test for ozone cracking resistance of vulcanized rubber or thermoplastic rubber）。该标准规定了硫化橡胶或热塑性橡胶在静态条件下评价其耐臭氧龟裂性能的......

GB/T 13642-2015是中国国家标准，标题为《硫化橡胶或热塑性橡胶 耐臭氧龟裂 动态拉伸试验》（Dynamic tensile test for ozone cracking resistance of vulcanized rubber or thermoplastic rubber）。该标准规定了硫化橡胶或热塑性橡胶在动态条件下评价其耐臭氧龟裂性......

GB/T 24134-2009是中国国家标准，标题为《橡胶和塑料软管 静态条件下耐臭氧性能的评价》（Evaluation of ozone resistance performance of rubber and plastic hoses under static conditions）。该标准规定了橡胶和塑料软管在静态条件下评价其耐臭氧性能的方法和要求。......

《GB/T 18949-2003 橡胶和塑料软管 动态条件下耐臭氧性能的评定》是中国国家标准，用于评估橡胶和塑料软管在动态条件下的耐臭氧性能。 一、范围： 本标准规定了动态条件下软管耐大气臭氧的有毒影响的评定方法。它适用于内径不超过25 mm(包括25 mm)的软管。 二、试验项目： 耐臭氧试验。 三、试验设备： 臭氧试验箱。 四、设备厂......

《GB/T 11039.3-2005 纺织品 色牢度试验 耐大气污染物色牢度 第3部分：大气臭氧》是中国国家标准，用于测试纺织品在大气臭氧环境下的色牢度。 一、范围： GB/T 11039的本部分规定了一种测定各种纺织品分别在室温、相对湿度不超过65%和高温、相对湿度超过80%两种情况下，耐大气臭氧色牢度的试验方法。 注1:如果样品对本试验表现出敏感，应......

《GB 8965.1-2020 防护服装 阻燃服》是中国国家标准，规定了防护服装中的阻燃服的要求和测试方法。 一、范围： 本标准规定了阻燃服的分级、要求、试验方法、检验规则，标识、包装及储存。 本标准适用于在有明火、散发火花，或在有易燃物质并有轰燃风险的场所使用的阻燃服。 二、试验项目： 阻燃性能试验、热稳定试验、防护性能试验等。 三、试验设备：......

GB 19268-2021是中国国家标准，关于固体氰化物包装的规范。该标准旨在确保固体氰化物产品在包装、储存和运输过程中的安全性。 一、范围： 本标准规定了固体氰化物(氰化钾、氰化钠)(以下简称氰化物)包装的分类、包装形式，包装结构及规格、要求、试验方法、检验规则、标识、运输和贮存。 本标准适用于固体氰化物包装。 二、试验项目： 堆码试验、底部提升试......

GB 24539-2021 是中国国家标准中关于防护服装的化学防护服的标准。该标准主要针对用于防护化学危害的防护服装，确保工作人员在接触化学物质时得到适当的防护。 一、范围： 本文件规定了化学防护服的分型、分级，标识、基本技术要求和试验方法。 本文件适用于从业人员在作业场所及应急救援工作中所需要的化学防护服。 本文件不适用于消防等场合使用的化学防护服。 ......

GB 2890-2022 是中国国家标准中关于呼吸防护的系列标准，其中包括不同类型的呼吸防护设备的要求和测试方法。在这个系列标准中，GB 2890-2009 是最常被引用的版本，它规定了自吸过滤式防毒面具的要求。 一、范围： 本文件规定了自吸过滤式防毒面具的分类及标记、技术要求、标识、包装和制造商提供的信息，描述了试验方法。 本文件适用于基于自吸过滤原理......

GB/T 36356-2018 是中国国家标准中关于功率半导体发光二极管芯片技术规范的标准。该标准为该领域的设计、制造和测试提供了规范和指导。 一、范围： 本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。 本标准适用于功率半导体发光二极管芯片。 二、试验项目： 温度循环试验、循环湿热试验，恒......

芯片模组低温测试箱用于产品的低温测试，下面是“环仪仪器”整理出的一些设计到芯片模组低温测试的标准和要求，供各位参考。 试验名称：芯片模组做低温测试 试验设备：环仪仪器 低温测试箱 试验条件： 1. EIAJ ED-4701/200:2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II） a. 将样品存放在预先设定在......

芯片模组在封测阶段需要做各种可靠性测试，其中一项就是低温测试，例如EIAJ ED-4701/200:2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II）和JESD22-A119A 低温存储寿命标准。芯片模组低温测试箱的应用意义在于： 1. 芯片可靠性测试：通过在低温环境下对芯片模组进行可靠性测试，评估其在极端低温条件下的性能和寿命。 2. 温度......