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光模块高低温贮存试验箱

文章出处:原创 编辑:admin 发表时间:2026-06-22

光模块高低温贮存试验箱是模拟高温、低温及温度循环等环境条件的可靠性测试设备,主要用于评估对SFP、SFP+、QSFP、QSFP28、QSFP-DD、OSFP等光模块进行高低温贮存试验,可验证其结构完整性、封装可靠性及材料稳定性。通过高低温贮存试验,为产品研发、质量控制和可靠性认证提供依据。

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技术参数:

高低温试验箱_03.jpg

 

主要试验内容:

1.高温贮存试验

试验温度:85℃、100℃、125℃

贮存时间:168h、500h、1000h

试验状态:非通

2.电低温贮存试验

试验温度:-40℃、-55℃

贮存时间:72h、168h、500h

试验状态:非通电

3.高低温循环贮存试验

温度范围:-40℃~+85℃

循环次数:100~1000

次驻留时间:30min~2h

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适用范围:

光模块(SFP/SFP+/QSFP/QSFP28/QSFP-DD)、光收发一体模块、光电转换器、光纤连接器、光耦器件、波分复用器件、无源光器件、光通信板卡等。

 

试验意义:

通过高低温贮存试验,可提前发现光模块在极端环境下可能出现的:

封装开裂、焊点失效、材料老化、光学性能漂移、密封性能下降、插拔结构变形等问题。

从而提高产品可靠性,降低现场故障率,满足数据中心、5G基站及通信网络对高可靠光通信产品的要求。

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如有光模块高低温贮存试验箱的选型疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。

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