适用于LED、LED芯片、灯珠、灯丝的高温高亮老化测试。内部结构经过特殊设计，可以承受大功率发热负载，最大发热量可达2500W （更大可定制），并可保证箱内基板温度正负误差。此款设备搭配LED电源烧测系统一起使用。

技术参数：

测试数量：

整套老化系统由1台精密高温烘箱搭配两台程控多通道老化电源，每台电源提供40个老化端口，整套系统共提供80PCB端口。

技术特点:

①数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用;

②被试器件DUT老化电源采用分区统一供给，程控方式;

③被试器件DUT每个输出端负载有电阻负载和程控电子负载类型可选;

④被试器件DUT输出可通过计算机检测、记录输入输出电压、输出电流;

⑤可根据用户的需求，制定各种老化板及测试程序。

产品特点：

1.丰富的通信接口，包括2个RS232接口、2个RS485接口、2个CAN接口。

2.所有板卡可以热插拔，有效防止接插件接触不良或单板故障造成的死机重启现象。

3.温度控制为PID微电脑，可自动演算，PV/SV同时显示，彩色LCD显示触摸屏，中文人机对话界面。

4.强制水平送风循环，风源由循环马达运转带动风轮经电热器，将热风由风道送至烤箱内部，且将使用后热风吸入风道成为风源再度循环加热，由此减小能量损耗并保证箱内的温度均匀性。

如有LED高温老化系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。