为了预防LED的品质问题，就要做好焊接封装元器件失效之品质控制，对LED产品进行高温老化测试，保证电子产品的可靠性。为了研究LED的高温应力失效分析，我们分析对led进行85℃和120℃的应力寿命试验，主要试验内容如下。

试验设备：环仪仪器 LED灯珠高温老化箱

评价方法：

试验过程：

1. 85℃寿命试验

由公式( 1) 可知 85 ℃ 下寿命分别为 4318 h、5593 h、7570 h、8630 h、7831 h、5063h，平均寿命为 6501 h; 取 Ea = 0． 5627 eV，根据公式( 2) 则可推出样品在 25 ℃下寿命为: 254428 h。

85 ℃条件下光输出功率随时间衰减曲线：

2. 120℃寿命试验

如下图“20 ℃ 条件下光输出功率随时间衰减曲线”所示，当温度处于 120 ℃ 时，两款芯片均迅速失效，由于误差较大，均无法正常推算，但就失效速度可知，1028A8 失效速度明显低于 1028A6。

120 ℃ 条件下光输出功率随时间衰减曲线：

3. 电流应力加速寿命试验

为了消除芯片个体差异所产生的实验误差，故采用分段式电流增加的实验方法。如下图，在不同时间段内分别增加电流，判断不同电流对两种芯片的影响差异。

根据公式( 3 ) 推算，在 2 倍电流情况下1028A6、1028A8 的平均寿命分别为 4110 h、5438 h。如下图，

两款芯片的失效时间比起温度应力条件下的平均寿命 6501 h、7289 h 而言明显更短，由此可见电流应力影响高于温度应力。且采取新型电极结构的1028A8 产品抗电流应力寿命明显优于传统电极结构的 1028A6 产品。

以上就是LED灯珠高温老化箱对led的温度应力加速寿命试验，如有试验疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。