新闻资讯
news
东莞市环仪仪器科技有限公司
电话：0769 83482055
传真：0769 83482056
移动电话：15322932685/宋小姐
地址：广东省东莞市东坑镇龙坑兴业路3号
常见问题
正确操作和维护测试室对于确保测试按计划完成、延长设备的使用
恒温恒湿试验箱是用于模拟各种环境条件下的材料或产品性能的设
低温雨雪冰冻环境是一种常见的极端天气事件，它通常发生在冬季
可编程高低温 SSD BIT老化实验箱测试要求
文章出处：原创
编辑：admin
发表时间：2023-11-15
固态硬盘（SSD）在生产过程中，需要在高低温环境下进行BIT老化测试，下面，我们根据实际要求，看看测试是怎么做的。
测试硬件：环仪仪器 可编程高低温 SSD BIT老化实验箱
测试软件：BurnInTest、H2test
测试环境：高温75℃／低温-10℃
测试样品：固态硬盘
.jpg)
测试流程设计：
测试流程分为两个阶段，高温测试和低温测试。具体步骤如下：
高温测试（75℃）： 运行BurnInTest软件进行高温测试，持续12小时。
切换至低温测试（-10℃）： 在测试箱温度切换至-10℃，运行BurnInTest软件进行低温测试，同样持续12小时。
测试周期：一个完整的测试周期包括高温和低温测试各一次，总时长为72小时，共循环三个周期。
测试后校验：
测试结束后，使用H2test软件进行校验，检查固态硬盘是否出现坏块。这一步骤在常温环境下进行，确保在不同温度条件下测试后的硬盘状态。
[上一篇: 可程式高低温 SSD BIT老化试验箱] [下一篇: 《GB/T 14831-2003 胶乳制品蒸汽老化试验方法》标准]
最新文章显示
环仪仪器厂家提供完整的售后服务，每一台环仪设备都有机身编号，只需提供机身号就可获得高效的覆盖全国30多个省市的售后服务，环仪承诺环境测试舱2年质保，终身维修，服务网点及周边地区确保2小时快速响应。
此文关键词：
.jpg)
