SJ/T 11875-2022是中国电子行业标准，它规定了电动汽车中使用的半导体集成电路在应力试验中的测试程序和要求。该标准的目的是评估半导体集成电路在电动汽车工作环境下的可靠性和耐久性。

一、范围：
本文件规定了电动汽车用半导体分立器件（以下简称器件）的分级及最低应力试验程序（适用应力试验程序组成器件检验方案）。
本文件用于指导制定电动汽车用分立器件检验方案的确定。

二、试验项目：
带偏置湿热试验，带偏置强加速应力试验、功率温度循环试验、温度循环试验等。

三、试验设备：
高温高湿试验机、HAST蒸汽寿命试验机、PCT饱和蒸汽寿命试验机等。

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

表2给出了检验的相关试验项目和条件，对于每次检验过程，无论是针对产品的实际试验结果还是可接受的通用数据，供应商都必须具备相应的报告和试验数据证明文件。此外，需对器件组内其他器件进行审核，以确保该组器件不存在通用的失效机理。无论使用与否，供应商必须证明通用数据的有效性，并得到用户的批准。

对每次检验，供应商必须提供以下资料:
a）产品设计、结构和已有试验数据（如筛选试验数据等）;
b）按表2确定的适用的检验大纲;
c）器件测试程序的故障覆盖率水平（某些复杂器件的性能或可靠性测试评估需借助软件并开发测试/评估程序)，当用户要求时必须提供。

表2的“适用类别”列规定了试验项目适用于特定器件类型的说明（例如某些试验项目仅适用于陶瓷封装器件，某些试验项目仅适用于非易失性存储器件等）。表2的“附加要求”栏规定了试验项目的适用性、目的及终点电测试要求。任何未列入本文件的用户特定试验项目和条件要求，由用户和供应商协商确定。