SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序》是中国电子行业标准，用于规定电动汽车中使用的半导体分立器件在应力试验中的测试程序和要求。该标准的目的是评估半导体分立器件在电动汽车工作环境下的可靠性和耐久性。

一、范围：
本文件规定了电动汽车用半导体分立器件（以下简称器件）的分级及最低应力试验程序（适用应力试验程序组成器件检验方案）。
本文件用于指导制定电动汽车用分立器件检验方案的确定。

二、试验项目：
强加速应力试验，反偏高温高湿试验、稳态湿热试验、温度循环试验等。

三、试验设备：
高温高湿试验机、HAST蒸汽寿命试验机、冷热冲击试验箱等。

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

表2给出了检验的相关试验项目和条件。对于每次检验过程，无论是针对器件的实际试验结果还是可接受的通用数据，供应商都必须具备相应的报告和试验数据证明文件。此外，需对器件组内其他器件进行审核，以确保该组器件不存在通用的失效机理。无论使用与否，供应商必须证明通用数据的有效性，并得到用户的批准。

对每次检验，供应商必须提供以下资料:
a)器件设计、结构和已有的可靠性信息（如筛选试验数据等）﹔
b)按表2确定的适当的检验大纲。

表2的“附加要求”列中对试验项目的适用性、目的及终点测试要求进行说明（例如，某些试验仅适用于气密封装器件，而某一些试验仅适用于功率MOSFET器件等）。任何未列入本文件的用户特定试验项目和条件要求，由用户和供应商协商确定。

如果间歇寿命试验的ΔAj≥100℃不能保证则执行功率温度循环。按表3的规定选择试验时间。

《SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序》的实施可以帮助制造商和相关行业进行电动汽车用半导体分立器件的可靠性验证和性能评估，确保器件在电动汽车工作环境下的稳定性和可靠性，提高整个电动汽车系统的工作效率和安全性。