我们都知道，海拔越高，气压越低。而一些在高海拔和飞行器上工作的器件，在低气压环境下，比在平地环境下更容易失效。气压变低，一方面会使器件周围空气的散热能力降低，另一方面介质的介电强度也会下降，会引起放电而损坏器件。

而电子器件的低气压试验，就是将试验样品放入高温低温高度试验箱(室)，然后将箱(室)内气压降低到有关标准规定的值，并保持规定持续时间的试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在贮存、运输和使用中对低气压环境的适应性。

对于低气压试验，通常有低温低气压和高温低气压两种方式，在海拔3000m(70kPa)的地带，主要出现的是低温环境，故采用低温低气压试验考察设备对低气压环境的适应能力。

电子器件低气压试验的要求：

试验设备：高温低温高度试验箱（高低温低气压试验箱）

设备型号：环仪仪器 HYLA系列

测试标准：

GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》

GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》

GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》

GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》

GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》

GB T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M 低气压试验方法

GJB 150.2-1986军用设备环境试验方法低气压（高度）试验

使用高温低温高度试验箱对电子器件的测试，具有重要意义，在试验的过程中，可以检测产品的散热性能、挥发性物质的影响、电气性能等。

如需对高温低温高度试验箱做更多了解，可以咨询“环仪仪器”相关技术人员。