汽车闭合件温度环境疲劳试验过程中，通过人机交互界面设置测试需求，通过CAN总线发送给门测试控制器，门测试控制器根据需求控制电磁阀通断电来带动气缸运动，并通过四连杆机构带动执行机构来回运动，从而实现门的开闭动作。下面，我们来看看各部件的试验过程。 汽车闭合件温度环境疲劳实验过程： 试验设备：环仪仪器 汽车闭合件温度环境疲劳系统 1.四门系统耐久试验控......

在车门关闭的过程中，车门速度是一个动态变化的值，关门速度值的大小与所选取的速度测量点位置密切相关，在对车身做高低温开闭耐久实验室，如何选择试验关闭速度，是关系到整个试验是否成功，下面我们通过相关研究，得出一系列参考结果。 车身开闭件高低温耐久测试的试验关闭速度研究： 试验设备：环仪仪器 车身开闭件高低温耐久测试系统 关门速度的测量： 在车门关闭的......

车身闭合件高低温耐久试验台主要用于在不同温度环境下对各类轿车/客车车门（乘客门、司机门、行李舱门、发动机仓门）等运动机构的开闭性能及耐久试验，试验对象为整车。 试验台各部分均采用模块式结构，试验时只需要将相对应的模块推到试验位置即可；所有测试结果由计算机自动记录，并自动形成测试曲线及测试报告。 技术参数： 试验项目： 1.客车仓门耐久试验： ......

车身门盖高低温批量实验系统能适应高低温、湿度交变的恶劣环境。为模拟汽车车门开关时所处的工作环境，车门开关耐久试验方案应考虑不同的试验环境，需满足的环境温度范围:-30~75℃,环境相对湿度范围10%~95 % RH。下面，我们对其中的 一些找用电机构组件做个简单了解。 产品名称：环仪仪器 车身门盖高低温批量实验系统 主要系统组件： 车门检测系统：可......

车门车盖温度环境疲劳试验系统的使用过程中，需要对前后盖试验运行中的故障进行判，下面，我们通过实际案例，来看看这些故障判断的主要内容有哪些。 前后盖试验运行中的故障判别： 试验设备：环仪仪器 车门车盖温度环境疲劳试验系统 一、合盖位置故障判别： 安装位置传感器于前后盖关闭位置下部，用于检测前后盖是否闭合到位。 使用定时器设定故障判别时间。 如果......

汽车门盖高低温耐久试验台是用于对车身功能部件开关耐久性进行确认。将车门和开关车门时必需的附件一并装配到实车或自车身上，在试验台上进行通常开关耐久试验和过开度耐久试验（超限开门耐久试验）。 试验项目： a.通常开关耐久试验：以规定的冲击减速度关门，前后车门分别反复开关规定频次。 b.过开度耐久试验(超限开门耐久试验)：将车门自半开状态完全打开，完全打......

目前，IC芯片、LED芯片等智能存储芯片在出厂检测时需要进行极端环境下的可靠性测试，以测试确定芯片失效时所处的温差区间。这些测试需要使用冷热冲击试验热流仪，下面，我们来看看冷热冲击试验热流仪的技术要求。 产品名称：环仪仪器 冷热冲击试验热流仪 设计要求：通过螺丝锁定的方式，使风罩本体能够快速安装到高低温热流仪本体上，并具有较高的稳定性和通用性。 设......

冷热冲击试验热流仪可进行温度冲击试验测试，能提供精确的设置要求，可用于研究电子元件的热阻，还可对电子元件进行温度循环和热冲击试验。可作为电子元件和材料表征的方法之一，符合MIL-STD883&750和JEDEC标准。下面，我们来看看相关试验要求。 冷热冲击试验热流仪试验要求： 试验设备：环仪仪器 冷热冲击试验热流仪 试验标准和要求： 一、......

高低温热流仪是一种快速、控温精确的高低温冲击系统，温控范围从-80C到+225℃，适用于各种应用。高低温热流仪可对对电子元件和材料进行热试验和表征，进而提高它们的可靠性，方法简便。 测试标准： 满足美国军用标准MIL体系测试标准 满足国内军用元件GJB体系测试标准 满足JEDEC测试要求 技术参数： 主要特点： 1.具有电动机械臂具有(......

实验室开发的钎料作为低银无铅钎料的改良产品中,Bi 元素的加入可以降低钎料合金熔点，提高材料的润湿性能。板级封装结构中焊点的冷热冲击疲劳可靠性是衡量电子产品性能的重要指标，因此，对无铅钎料的可靠性实验研究尤为重要。下面，我们来使用温度冲击实验热流罩对无铅钎料进行可靠性实验。 试验设备：环仪仪器 温度冲击实验热流罩 试验材料：无铅钎料 试验标准：JESD......

在高低温冲击测试实验中，冷热冲击试验热流罩作为试验设备，对产品的测试、温度控制和实验环境稳定性有重要影响。对于冷热冲击试验热流罩设计有什么要求呢，下面我们来看看相关设计方案。 产品名称：环仪仪器 冷热冲击试验热流罩 设计核心：通过气体隔绝层+微出气孔+饱和出气平衡口的优化设计，提高实验环境的稳定性，杜绝结冰现象，提升整体测试性能。 方案设计：采用双......

高低温冲击测试系统用于组件的温度测试，例如汽车零件，传感器，光纤收发器，微波设备，MCM，PCB，以及所有类型的电子/非电子零件和其他测试物品。设备可调温度-80℃~+225℃，准确地定位于需要进行热冲击和温度循环测试的冷热区域。 技术参数： 技术优势： 在芯片可靠性测试方面，高低温冲击测试系统有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快，实......