透镜光学器件盐雾试验箱用于评估光学及其他功能性涂（镀）层的抗盐雾腐蚀的能力，通过盐雾试验，提早发现材料组合的不合理性。试验箱可以维持35±2℃，顶部与水平方向倾斜30°以上，凝结的水滴不会从上面和侧壁滴落到试样上。   技术参数：   试验条件 1.温度 试验期间，暴露区里的温度为35℃&......

高速电芯片盐雾试验箱的试验依据《GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》的要求进行，通过盐雾试验确定半导体的耐腐蚀能力。 满足标准： GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 GB/T 10125 人造气氛腐蚀试验盐雾试验 GB/T4589.1 半导体器件第10部分：分立器......

高速PCB盐雾试验箱用于测试高速PCB耐腐蚀性能，高速PCB板进行盐雾试验的时候，需要控制其摆放角度，并且其表面不能积聚过多盐水，否则会影响腐蚀速率，导致测试结果失真。   技术参数：   试验方法： 1.按照 GB/T 2423.17-2008《电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验 Ka:盐雾》标准进......

无源器件盐雾试验箱依据《GB/T 18310.26 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-26部分：试验 盐雾》标准的要求设计，用于评估光纤连接器、适配器及光分路器等无源器件在海洋性或腐蚀性大气环境中的抗腐蚀能力与结构完整性。   技术参数：   试验目的： 比较相似结构纤维光学器件处于可控盐雾大气......

光芯片盐雾试验箱用于确定半导体器件耐腐蚀的能力。其试验原理是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验，适用于工作在海上和沿海地区的器件。   试验标准： GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 技术参数：   试验预处理： 若规定了预处理，试验样品在进行盐雾试验之前，......

光引擎高温寿命试验箱满足《Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可靠性保证要求》标准中“试验 3.3.3.1 高温工作测试”的要求，用于验证光引擎的长期高温耐受性能。   试验标准： Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可......

连接器高温寿命试验箱用于确定交换机端口在高温条件下使用和（或）储存的适用性。通过试验判断塑料外壳或尾套受热变脆、软化、开裂等现象，通过这些现象帮助工程师在研发过程中对产品进行改善。 试验标准： Telcordia GR-468-CORE：2004 用于电信设备的光电器件的通用可靠性保证要求   技术参数： 试验概述： 将......

光纤高温寿命试验箱用于确定光纤（包括光纤带和光纤组件）在高温、低湿度（干热）环境储存或使用条件下的适应性。通过长时间的高温暴露，判断光纤的衰减（Attenuation）是否出现增大，或者引起涂覆层老化、剥离等现象。   技术参数：   试验样品要求： A1类光纤应至少为1000m，对B类光纤应至少为2000m。 ......

连接器高温寿命试验箱用于确定连接器在高温条件下使用和（或）储存的适用性。试验中通过温度逐步升高，并使样品经受足够长时间的高温以达到温度稳定状态，从而评价连接器的适用性与可靠性。   试验概述： 将样品置于箱温为环境温度的试验箱中。然后将温度以不超过1℃/min的速率升到试验温度，并保持在该温度下至规定的持续时间。保温结束时，样品保留在......

FAU光纤阵列高温寿命试验箱用于评估光纤阵列在高温干燥环境下的性能稳定性，主要涉及光纤的光学、机械和热学特性。通过试验确认光纤在极端温度条件下能否保持传输性能和耐久性。   满足标准： 光纤试验方法规范第51部分：环境性能的测量方法和试验程序—干热 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-18部分：试验干热&m......

透镜光学器件高温寿命试验箱主要用于透镜光学器件（无源器件）承受实际使用、贮存和（或）运输中可能遇到的持续高温（干热）环境条件下的适应性。   试验描述： 将待测试样品置于环境温度的试验箱内，随后，以平均速率不超过1℃/min（不超过5min的平均值）的速率，逐渐将试验箱温度提升至预设试验温度，并按规定的持续时间保持此温度。 待温度保......

高速电芯片高温寿命试验箱主要用于高速电芯片的鉴定和可靠性检验。该试验主要描述随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。   满足标准： GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命 IEC 60749-23......