LED在高温和电流应力下，LED的封装和透镜都发生老化，颜色发黄、发光效率降低和色度参数特性发生变化，甚至失效。因此，LED的寿命跟工作条件关系紧密。针对LED在不同电流和温度应力条件下的老化研究尤为重要，为此，我们做了85℃和125℃下的高温老化试验，下面是大致实验内容。

试验设备：环仪仪器 LED热应力试验箱

试验样品：１W GaN基白光LED

研究内容：LED高温耐电（HTCD）和高温存储（HTS）两种老化条件的光热性能变化

实验过程：

1.对所有样品在常温和正常工作电流条件下进行1000h的预老化实验，目的是剔除光色参数变化幅度较大的次品，驱动电路如下图所示。

2.选择综合性能稳定的样品并将其分成两组（每组5颗，编号从1到10）；接着，开展HTCD实验及HTS实验。

实验条件：

1. HTCD 实验条件为：LED热应力试验箱温度控制在 85±2℃下，工作电流If为 350 mA。此时，测得器件的结温为125℃。在此条件下，老化1 000 h。

2. HTS 实验条件为：无加载电流，调节LED热应力试验箱的温度为 125±2 ℃，使器件结温与 HTCD 实验的结果保持一致。以方便比较实验结果，之后在该温度下存储1000 h。两组实验同时进行，待实验完成时样品在室温下放置 4 h，然后测试其光、热性能参数。

实验结果：

HTCD 实验和 HTS 实验后的硅胶图

25 ℃和 350 mA 下老化0 h、预老化1000 h和高温 85 ℃、驱动电流为 350 mA 下老化1000h的辐射功率分布图

25 ℃和 350 mA 下老化0h、预老化1 000 h和 125 ℃下存储 1000 h后的光谱功率分布图

试验结论：

结果表明，在 HTCD老化下，光通量衰减达到 40~60%;而 HTS下的衰减只有 10~14%。这说明，电流应力对LED的寿命影响比较大。

如对以上试验有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。