光模块的热稳定性需要通过HTST高温存储实验来完成，同时，高温存储实验也是光电子器件和光模块必须做的一种加速老化试验，这种应力将加速引起产品失效，从而可在相对不太长时间内获得高温下的失效率分布。

试验设备：环仪仪器 HTST充氮真空烘箱

试验标准：JESD22-A103

测试方法：

150℃恒定高温氮气环境中存储500~1000小时，评估材料热稳定性、界面附着力及金属扩散。

高温加速寿命试验的理论依据：

半导体器件等电子元器件在使用或储存过程中，总存在着某种比较缓慢的物理化学变化。当这一物理化学变化过程发展到一定阶段时，器件的外观个性和功能就逐步变化，最终导致特性的退化和功能的完全丧失，即失效。器件的失效大多是由于器件表面状态的变化和体内、金属化系统等的物理化学变化造成的。

例如，由于PN结附近有杂质离子或其他沾污形成导电沟道，使器件反向漏电流变大、击穿电压下降；由于湿气或其他有害气体侵人管壳内产生化学腐蚀等，这些变化实质上都是物理化学变化过程。它们的变化过程跟温度有密切关系。当温度升高以后，这些物理变化过程大大加快，器件的失效过程被加速，这就是加速老化试验的理论依据。

光模块高温存储实验意义

光模块的高温存储实验就是用加大应力的方法促使样品在短时期内失效，从而预测光模块在正常储存条件或工作条件下的可靠性，这样就可以在较短时间内通过少量样品的高应力试验，推算出产品在正常应力下的可靠性水平，以供用户设计时参考，或作为工艺对比及合理制定筛选条件和例行试验规范的依据。

如有HTST充氮真空烘箱的使用疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。