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文章出处：原创编辑：admin 发表时间：2026-07-10

透镜光学器件高温寿命试验箱主要用于透镜光学器件（无源器件）承受实际使用、贮存和（或）运输中可能遇到的持续高温（干热）环境条件下的适应性。

试验描述：

将待测试样品置于环境温度的试验箱内，随后，以平均速率不超过1℃/min（不超过5min的平均值）的速率，逐渐将试验箱温度提升至预设试验温度，并按规定的持续时间保持此温度。

待温度保持阶段完成后，将将试验箱温度降低至环境温度，待样品与环境温度平衡后，进行最后测量。

技术参数：

高温烤箱.jpg

试验方法：

1.先将试验箱与待测样品置于标准大气条件下，待二者达到稳定状态。随后，使样品以正常工作位置放入试验箱内，包括与外围设备的连接（如要求）。

2.按照严酷等级（见下图），对试验箱温度进行调节，整个过程平均温度变化速率不得超过1℃/min，且需满足5分钟内的速率均值要求。待样品温度稳定后，在规定的持续时间内保持此温度。

3.试验结束后，样品保持在试验箱内，逐步将箱内温度调节至标准大气条件，降温速率不超过1℃/min（5分钟均值）。详细规范可要求在条件试验期间进行测量。如要求，详细规范应规定进行测量的项目及何时进行测量。在进行这些测量时不得将样品从试验箱内取出。

如有透镜光学器件高温寿命试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。

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