光纤温度循环试验箱专门用于模拟温度变化环境，对光纤、光通信器件及相关材料进行高低温循环测试的试验设备，其设计依据《GB T 15972.52-2008 光纤试验方法规范 第52部分：环境性能的测量方法和试验程序 温度循环》的标准。

满足标准：GB T 15972.52-2008 光纤试验方法规范 第52部分：环境性能的测量方法和试验程序 温度循环

技术参数：

测试方法：

1.试验开始前，试验过程中（当样品稳定在规定温度和相对湿度条件下）和试验结束后都要对样品的衰减在规定的波长上进行测量。测量方法和试验程序按照GB/T15972.40-2008的规定，应记录衰减的变化量。

2.试验时，将光纤松绕并置于试验箱内（松绕半径大于150mm），按照下图的温度曲线对光纤进行温度适应试验。

在不同的试验温度平台上，将光纤保温一定时间，使光纤内部和光纤表面温度达到平衡（对于松绕散置的光纤保温时间应大于1.5h，对于松绕盘绕光纤保温时间至少2h）；

在光纤内外温度达到平衡后，利用OTDR监视和测量各温度平台上光纤衰减的变化量，并以温度平台上衰减值与常温衰减值变化量的最大绝对值作为光纤的温度附加衰减，然后以温度附加衰减的大小评价光纤的温度适应性：

依次利用色散测试仪（含PMD测试模块）监视和测量各温度平台光纤的色散和PMD，以与测量衰减变化量相同的方法测量色散和PMD的变化，以常温下的色散和PMD作为基础评价光纤的色散-温度性能和PMD-温度性能。

3.试验结束后，如果没有特殊要求，样品应在标准大气条件下恢复1h以上，但不得超过24h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量，如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量。

4.试验前后衰减变化和剥离力变化的相关要求按有关产品规范的规定。

如有光纤温度循环试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。