光模块的温度循环试验是确定光模块件承受高温和低温的能力，以及高温和低温交替变化对光光模块的影响，保证光模块件封装内部的光路长期机械稳定性。其试验依据《GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法》标准，下面我们来看看光模块的温度循环试验方法。

试验设备：环仪仪器 光模块高低温老化装置

试验依据：GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法

温度循环条件：

循环温度：-40℃~+85℃；

高、低温保持时间：15min;

循环次数：500次(非受控环境)，或100次(受控环境）；

升降温速率：＞10℃/min。

老化程序如下：

a)试验前对试样的主要光电特性进行测试；

b)将试样放置在试验箱内，其位置不应妨碍试样周围空气的流动；

c)试样在规定条件下连续完成规定的循环次数，试验曲线见下图；

d)完成规定的循环后，把试样从试验箱移出放置24h，使之达到标准测试条件后进行光电特性测试。

由于电源或设备故障原因，允许中断试验。如果中断的循环次数超过规定循环的总次数的10%时，不管任何理由，试验应重新从头开始进行。

试验后检测：

完成试验后，在不放大或放大不超过3倍情况下，对试样的标志进行检验；在放大10倍~20倍情况下，对外壳引线或密封部位进行检验；并对试样主要光电特性进行测试。

以上就是光模块高低温老化装置对光模块的温度循环试验，如有试验疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。