以往半导体厂商依据ICE标准（85%rh相对湿度85℃热环境）对半导体元件进行长时间（＞1000hrs）静态老化，使其失效周期加速显现。JESD22-A110高加速HAST试验箱的研发，是为了解决以上超长的实验周期，下面，我们结合实际使用要求，来看看高加速HAST试验箱的技术要求。

试验设备：环仪仪器 JESD22-A110高加速HAST试验箱

产品特性：解决超长的实验周期，不支持表面贴装工艺，对整个实验过程中元件电气性的检测等问题。

技术要求：

1.HAST实验箱

功能：模拟高温高湿环境，进行加速老化测试。可在110~130℃温度范围内保持相对湿度为85%。

技术参数：

2.系统工作原理

测试准备：用户通过中控模块设置测试参数，包括温度、湿度、测试时间等。

环境模拟：HAST实验箱根据设定参数，启动高温湿度控制系统，模拟实际使用环境。

信号采集：待测元件在测试过程中，相关数据通过多路信号适配板传输至多路数据采集模块进行实时监测。

数据处理：采集到的数据被传送至中控模块，由控制处理器进行处理和存储。

结果分析：测试完成后，用户可通过人机交互界面查看测试结果和分析数据。

技术优势：

1.HAST试验箱适用于各类半导体元件的HAST可靠性测试，能够验证贴片封装和接插元件在实际焊接条件下的使用寿命。中控模块可设定HAST试验箱的温湿度和电源电压，实时记录和分析多路数据，生成伏安特性图供技术人员参考。

2.可对几乎所有半导体和光伏元件进行HAST实验，采用多路信号采样可同时对多个样本进行标准化实验，且测试时间仅需ICE的十分之一。

3.设计了多重信号分路板，并配备滤波器和保护电路，有效过滤噪声和防止浪涌，确保仪器安全和信号纯净。

如有JESD22-A110高加速HAST试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。