eMMC存储芯片高低温老化箱可对eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒体卡）、SSD（Solid State Disk，固态硬盘）、UFS（UniveralFlash Storage，通用闪存存储器）等存储芯片的兼容性能进行检测。在不同存储芯片适配终端产品的PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）时，可在不同的环境条件下，快速高效的筛选出兼容性能良好的存储芯片。

下面，我们结合实际情况，看看如何对eMMC存储做高低温老化测试。

eMMC存储高低温老化测试方法：

试验设备：环仪仪器 eMMC存储芯片高低温老化箱

测试内容：高低温循环存储、高低温循环工作

工作模式示意图：

试验步骤：

高低温循环存储试验

1、6 套球泡灯在温箱内仅存储并不上电工作，开启并设置eMMC存储芯片高低温老化箱工作于指定温度（-40/-20/0/25/60/85/105/125）℃循环模式；

2、6 套球泡灯在温度循环环境下持续存放 72 小时后取出，并在常温下通过 BLE 配网加入无线路由器 AP，进而连接云，并在智能控灯 APP 上添加设备成功；

3、1 小时内随意查询 6 套球泡灯连云状态，并调整颜色，开关灯等操作。

高低温循环工作试验

1、6 套球泡灯在温箱内上电工作，开启并设置eMMC存储芯片高低温老化箱工作于指定温度（-40/-20/0/25/60/85/105）℃循环模式；

2、6 套球泡灯在温度循环环境下持续工作 168 小时，期间反复尝试 BLE配网加入无线路由器 AP，进而连接云，并在智能控灯 APP 上添加设备成功；

3、168 小时内随意查询 6 套球泡灯连云状态，并调整颜色，开关灯等操作。

如对以上试验有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。