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东莞市环仪仪器科技有限公司
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常见问题
2025-07-17 整车湿热环境试验室的技术方案
整车湿热环境试验室用于模拟自然环境中的高低温、湿度变化,对汽车及其零部件进行耐候性测试。试验室通过控制温度、湿度和气压等环境参数,考察整车在不同环境条件下的适应性和耐久性,确保系统温湿度分布均匀、波动度低,并保持高效节能。下面,我们来了解一下相关的技术方案。 设备名称:环仪仪器 整车湿热环境试验室 系统组成:新风系统、制冷系统、加热系统、加湿与加湿辅助系......
2025-07-17 汽车湿热环境模拟试验房的湿热循环实验
汽车湿热循环实验是模拟汽车工作过程中,因高湿度环境导致的温度交变循环,其实验机理是湿热的腐蚀作用,湿热环境还会对材料的机械性能和化学性能产生影响,如体积膨胀、机械强度降低等。这些因素可引发间接的化学和电化学腐蚀。同时,水分的吸收、扩散和凝聚作用会导致绝缘材料的体积电阻下降,从而产生漏电流。 下面以VW80000标准为例,为大家介绍汽车湿热循环实验: 试验......
2025-07-17 汽车整车恒定湿热试验箱
随着汽车产业的快速发展,汽车常作为露天行驶的交通工具,在制造生产汽车时,常常需要测试环境条件,例如高温、低温、湿度等,通过环境适应性试验,汽车整车恒定湿热试验箱能够发现汽车设计中存在的问题,并采取措施并纠正其缺陷,提高汽车的环境适应能力。 技术参数: 在相关标准中的应用: 1.GJB150.9A 试验条件:模拟湿热环境,交变湿热温度:30℃~......
2025-07-16 eMMC高低温试验箱
eMMC高低温试验箱是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP等颗粒存储芯片进行高低温老化的设备。设备采用可程式系统控制,能够同时支持大批量芯片同步老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度精准。 技术参数: 性能特点: 1:温度精准,产品周边温度稳定控制在±3℃内 2:升降温速度快 3:可同时针对大批量芯片进行老化测试 ......
2025-07-16 eMMC存储芯片高低温老化箱的测试方法
eMMC存储芯片高低温老化箱可对eMMC(EmbeddedMulti Media Card,嵌入式多媒体卡)、SSD(Solid State Disk,固态硬盘)、UFS(UniveralFlash Storage,通用闪存存储器)等存储芯片的兼容性能进行检测。在不同存储芯片适配终端产品的PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)时,可......
2025-07-16 EMMC高低温循环试验箱的技术方案
EMMC高低温循环试验箱可针对NAND Flash、UFS芯片进行高速、高低温度范围的全功能动态老化测试。针对集成NAND和Controller的模组芯片(例如UFS和eMMC),还可进行接口协议和性能测试。存储器高速老化测试系统可实现早期失效筛选、故障定位、量产老化等测试需求。下面,我们来看看EMMC高低温循环试验箱的技术要求。 产品名称:环仪仪器 EM......
2025-07-16 Flash高低温试验箱
Flash高低温试验箱可用于研究Flash存储器在不同温度下的性能变化的机理和温变规律,评估其空间应用的可行性,为Flash器件在空间型号任务的应用提供试验依据和改进建议。过温度循环测试,可以检测到由于温度变化引起的结构应力、热膨胀差异、焊点疲劳等问题。这些问题可能导致接触不良、焊接断裂、金属疲劳等故障。 技术参数: 产品性能: 1.支持SAT......
2025-07-16 NAND Flash高低温筛选试验机在Flash的温变规律研究
为了研究Flash存储器在不同温度下的性能变化的机理和温变规律,评估其空间应用的可行性,为Flash器件在空间型号任务的应用提供试验依据和改进建议。在温变规律研究中,一般会用到NAND Flash高低温筛选试验机,下面,我们来了解一下Flash存储的高低温性能擦写试验研究。 试验设备:环仪仪器 NAND Flash高低温筛选试验机 试验样品:某品牌Fla......
2025-07-16 Flash器件高低温擦写性能试验箱的测试方法
为了研究FLASH芯片的坏区增长与擦写次数为怎样的关系,目前尚未有实际实物参照数据。下面使用Flash器件高低温擦写性能试验箱,通过FLASH芯片寿命试验,在地面模拟FLASH芯片在空间连续加电并多次擦除、写和读操作,设计了以下试验方法。 Flash芯片高低温寿命试验设计: 试验设备:环仪仪器 Flash器件高低温擦写性能试验箱 配套工具:试验板1套,......
2025-07-16 Flash/eMMC存储热冲击试验机的技术要求
随着电子产品的广泛应用,尤其是在移动通信、计算机、智能家居等领域,闪存芯片(如NAND Flash)在数据存储中的重要性日益增加。为了确保这些闪存芯片在极端环境条件下的可靠性,必须对其进行高低温冲击试验,这就需要用到Flash/eMMC存储热冲击试验机。下面,我们来了解一下Flash/eMMC存储热冲击试验机的相关技术要求。 设备名称:环仪仪器 Flash......
2025-07-16 存储芯片高低温热冲击设备的测试要求
在存储芯片的生产制造过程中,需要进行各种可靠性试验,其中高低温冲击试验就是一项重要的测试项目,下面,我们结合实际测试要求,来看看存储芯片的高低温热冲击试验是怎么做的。 存储芯片高低温热冲击试验流程: 试验设备:环仪仪器 存储芯片高低温热冲击试验箱 试验条件: 高温80℃:30min 低温-40℃:30min 转换时间:高温和低温变化......
2025-07-16 闪存芯片高低温冲击试验箱
闪存芯片高低温冲击试验箱主要检查材料是否能承受快速的温度变化。有些转变如从高温到低温,然后,从低温到高温。这些突然的变化会导致应力和损坏,如裂缝或断裂,要目标是看看材料如何应对这些大的温度波动。 冷热冲击测试定义 冷热冲击测试又叫为高低温冲击试验或者温度冲击试验,是将试验样品暴露在高温和低温的连续交替环境中使其在短时间经历温度的急剧变化,考核产品对周......
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