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文章出处：原创编辑：admin 发表时间：2026-07-13

光纤高温寿命试验箱用于确定光纤（包括光纤带和光纤组件）在高温、低湿度（干热）环境储存或使用条件下的适应性。通过长时间的高温暴露，判断光纤的衰减（Attenuation）是否出现增大，或者引起涂覆层老化、剥离等现象。

技术参数：

高温烤箱.jpg

试验样品要求：

A1类光纤应至少为1000m，对B类光纤应至少为2000m。

将试样垂直或水平放置，为避免任何宏弯影响，绕圈直径应大于150mm。

试验条件：

依照GB/T 2423.2 中试验B，试验温度85℃，持续时间可以30天。

试验过程：

1.将光纤样品置于标准大气条件下放置一段时间，并对样品的衰减和剥离力进行测量。

2.调节高温寿命试验箱温度，在最长5min时间内，平均升温速度应不超过1℃/min。使样品温度达到稳定，并在规定期间内维持该温度和湿度不变。

3.试验完成后，让试样继续保留在试验箱内，直到试验箱温度降到标准大气条件。在最长5min时间内，平均降温速度应不超过1℃/min。

4.将样品移出试验箱，在标准大气条件下再次测量光纤的衰减和剥离力的性能。

试验注意事项：

1.试验箱内的温度必须能够保持在规定的工作温度，偏差通常控制在±2℃以内。

2.箱内需要有良好的空气循环，但风速不能直接吹向样品，以免造成局部温差。

如有光纤高温寿命试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。

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