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文章出处：原创编辑：admin 发表时间：2026-07-10

FAU光纤阵列高温寿命试验箱用于评估光纤阵列在高温干燥环境下的性能稳定性，主要涉及光纤的光学、机械和热学特性。通过试验确认光纤在极端温度条件下能否保持传输性能和耐久性。

满足标准：

光纤试验方法规范第51部分：环境性能的测量方法和试验程序—干热

纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-18部分：试验干热—高温耐久性

技术参数：

高温烤箱.jpg

试验箱要求：

根据GB/T 2423.2-2001试验B，试验装置包括一个环境试验箱。试验箱的大小应能够容纳试验样品，不得使试样受到直接辐射热和便于条件调节时的测量，它也能维持规定的温度在规定的容差内，可用空气循环维持试验箱内的均匀条件。

试验要求：

试验过程应遵循GB/T 2423.2-2001中试验B，试验温度和试样放置时间为85℃和存储30d。试验过程中对湿度不进行控制，但建议在试验开始时，35℃下的湿度应不高于50%RH。

试验后恢复：

如果没有特殊要求，样品应在标准大气条件下恢复12h以上，但不得超过48h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量。如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量。

如有FAU光纤阵列高温寿命试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。

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