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文章出处：原创编辑：admin 发表时间：2026-07-09

光模块高温寿命试验箱是对光模块进行寿命预测的试验设备，其特点是在不改变电子元器件失效机理的前提下，利用加大应力的方法来加快寿命测试。加速寿命试验的方法主要包括恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。

技术参数：

高温烤箱.jpg

老化模型：

加速寿命试验的参数化模型有阿伦尼斯模型、艾林模型、逆幂律模型和多应力加速模型等。

试验条件：

试验温度：普通组件/模块可选（85±2）℃或（70±2）℃，光电二极管为（175±2）℃

工作偏置：施加正常工作偏置（可按需调整）

试验时长：常规为5000h，可根据产品测试要求调整

试验程序：

a)试验前应对试样的主要光电特性进行测试。

b)将试样放入高温寿命试验箱，使其处于正常工作状态。

c)按设定条件运行，同步记录起始时间、试验温度、试样数量。

d)通过监视仪器监测试验温度与工作偏置，以保证全部试样按条件施加应力。

e)按需取出样品完成性能检测后，放回试验箱继续完成剩余老化流程。

f)试验结束后48h内完成全量试样的光电特性复测与外观目检，对比前后数据判定产品可靠性。

如有光模块高温寿命试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。

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