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常见问题
FAU光纤阵列恒定湿热试验箱
FAU光纤阵列恒定湿热试验箱满足《光纤试验方法规范 第50部分:环境性能的测量方法和试验程序 恒定湿热》标准的要求，用于FAU光纤阵列在实际应用、贮存和(或)运输过程中可能发生的高温高湿度环境条件下的适应性能。
技术参数：
试验条件：
试验过程应遵循GB/T 2423.3-2006中方法Ca，试验温度、湿度和试样放置时间如下
温度：85℃
湿度：85%
试验时间：30d
试验要求：
1.在试验开始前，试验过程中(当试样稳定在规定温度和相对湿度条件下)和试验结束后都要对试样的衰减进行测量。
2.在试验前后都要对光纤涂覆层剥离力进行测量,用来评估涂覆层可剥特性的变化。
3.试验完成后，让试样继续保留在试验箱内，直到试验箱温度降到标准大气条件。在最长5min时间内，平均降温速度应不超过1℃/min。详细规范可要求在条件调节期间进行测量，如有此要求，详细规范应规定什么时候,进行哪些方面的测量，在做这些测量时不应将试样移出试验箱。
试验后恢复：
如果没有特殊要求，试样应在标准大气条件下恢复12h以上，但不得超过 48h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量,如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量。
如有FAU光纤阵列恒定湿热试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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