高加速高压蒸煮湿热试验箱用于评估非密封封装固态设备在正常（环境）运行期间可能遇到潮湿环境的可靠性。HAST 也称为压力锅测试 (PCT) 或不饱和压力锅测试，其目的是通过将测试室内的水蒸气压力提高到远高于样品内部水蒸气压力的水平来加速水分渗透到样品内部，以评估样品的抗湿性。

下面是高加速高压蒸煮湿热试验箱常见的高加速温度和湿度应力测试讲解。

高加速温度和湿度应力测试：

试验设备：环仪仪器 高加速高压蒸煮湿热试验箱

试验依据：

JEDEC 标准(1988-6) No.22-110 测试方法 A110 高加速温度和湿度应力测试 (HAST)。

IEC 60068-2-66 (1994-6)环境试验。第 2 部分：试验方法-试验 Cx；湿热，稳态（非饱和加压蒸汽）。

HAST 测试原理：

HAST 测试缩短了完成半导体典型湿度 85℃/85% RH 测试所需的时间（96 HAST 小时相当于 1000 THB 小时）。通过将温度升高到 100℃以上（通常高达 130℃）并增加压力，可以模拟正常湿度测试，同时保持相同的故障机制。

如果被测设备超出参数限制或其功能无法在标称条件下或根据适用的采购文件进行演示，则应视为测试失败。

HAST 测试原理图：

HAST 测试图图：

HAST测试的目的：

1.评估产品在高温高湿环境下的稳定性，以确保芯片能够在恶劣的应用环境中长时间稳定工作；

2.检测可能由高温高湿引起的问题，例如热膨胀导致的焊接破裂或金属线断裂，以及腐蚀引起的电气连接问题；

3.验证产品的可靠性，以提供给制造商和客户可靠的产品性能数据。

以上就是对高加速高压蒸煮湿热试验箱的HAST应力测试讲解，如有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。