军用单片集成电路是军用电子设备的核心部分。按照军用环境应用条件要求需要进行高低温测试， 温度范围为-55~125℃。下面，通过用温度冲击气流试验仪，来 看看对军用电子产品的试验应用

试验设备：环仪仪器 温度冲击气流试验仪

试验样品：运算放大器

试验设计：在低温-55℃和高温125℃对电路进行测试，电路测试时间一般控制在30 s内完成，若电路测试时间超过30 s，测试需分段进行。

试验分析：

输出电流Io+在使用温度冲击气流试验仪的情况下在高温与低温下分别为30.2 mA和49.2 mA，输出电流Io-和输出短路电流Isc+、Isc-的数据说明了温度冲击气流试验仪测试情况下的极限值跨度大，即在规定的温度范围内，温度冲击气流试验仪更能体现极限温度下测参数值的，从而在设计的早期摸底阶段可以更准确地验证极端环境条件下的器件性能特性变化，排除故障风险。

试验结论：

军用元器件需要在极端温度环境下使用，目前在采用烘箱进行高低温电测试的过程中，由于器件温度会有一定的回温现象，对于一些温度敏感参数而言不能最大程度地测出器件真实的性能特性变化范围。

应用温度冲击气流试验仪可以精确控制被测器件壳温，并能同时进行通电测试器件性能指标特性。在科研阶段热流置给集成电路、模块及电子元器件等提供了精确的环境温度，能更有效地对产品电性能进行测试，从而更好地排除早期失效,并提高可靠性分析的准确性。

如需了解更多温度冲击气流试验仪的试验应用，可以咨询环仪仪器相关技术人员。