对于出厂的LED模块（即LED显示模组），需要进行各个方面的性能测试，为了检测OLED模组在高低温环境下的工作性能，一般需要对LED模组进行快速温变测试。下面是LED模块快温变测试系统的技术要求。

产品名称：环仪仪器 LED模块快温变测试系统

系统构成：主要由工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和LED模组承载装置构成。

功能特点：统能够在大范围快速温变环境下对OLED模组的光学参数进行精确测试，提高测试结果的准确性，并实现测试过程的自动化，提升测试效率。

主要参数：

工作原理：

通过老化排线连接程控多通道LED老化电源与环境试验箱，老化排线一端(36p连接器端)插在程控电源输出端口，另一端(金手指端)通过试验箱进线孔进入箱体内，固定在高温老化治具上。

进行老化试验时候，只需将老化板插在试验箱内金手指上，设置相应实验参数即可开始试验。

技术优势：

1.通过温度传感器和加热模块的配合，可以更加精确地控制测试过程中的温度，确保LED模组在稳定的温度环境下进行测试，减少温度波动对测试结果的影响。

2.能够提供 -60℃ - 150℃的宽温范围，且温变速率可达15℃/S以上，能够满足不同类型OLED模组在不同温度环境下的测试需求。

3.系统可以实现对多通道LED模组的单独测试，每个LED模组都能够在独立的测试条件下进行测试，提高了测试的灵活性和准确性。

如有LED模块快温变测试系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。