LED快速温变试验系统是用来确定产品在高温、低温快速或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环，温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。

试验标准：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等

技术参数：

系统组成：

整套老化系统由1台快速温变试验箱搭配一台程控多通道老化电源，整套系统共提供40PCB端口。

老化原理：

通过老化排线连接程控多通道LED老化电源与环境试验箱，老化排线一端(36p连接器端)插在程控电源输出端口，另一端(金手指端)通过试验箱进线孔进入箱体内，固定在高温老化治具上。

进行老化试验时候，只需将老化板插在试验箱内金手指上，设置相应实验参数即可开始试验。

产品特点：

1.可以对LED模组在-40℃~150℃温度范围内以15℃/S温度升降温速率变化下的强化加速测试，实现了在高低温环境下对多通道LED模组的单独测试。

2.可以在大范围快速温变环境下对LED模组的光学参数的测试，提高了测试结果的准确性，测试结果能够真实反映OLED模组的质量情况。

3.整套试验系统由软件控制完成整个测试流程，测试过程无需依赖于人工方式，可以完全自动化进行，检测过程的效率高。

如有LED快速温变试验系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。