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led高温老化实验装置对封装LED的寿命评估方法
LED灯珠在封装完成后都需要进行可靠性实验来验证其性能能否具备,在评估LED灯珠性能时,寿命测试是其重要的环节。为了经济快速的评估其寿命极限,我们设计了一种加速寿命评估方法来对 COB 封装的 LED 进行寿命评估,以下是主要试验内容。
试验设备:环仪仪器 led高温老化实验装置
试验设计:该器件采用陶瓷基板和硅胶封装,其额定驱动电流为120mA,额定功率 1W,光通量典型值为 130lm,色温 3000K。
加速寿命试验:
从测试合格的样品中随机抽取8只进行恒定温度应力的加速寿命试验。选用恒流供电,If=120mA,led高温老化实验装置温度为165℃,加速工作时间为 500h,测试时间间隔为 20h、50h、100h、200h、500h。下表给出了 165℃加速应力下的8只样品的平均光通量随时间的衰减变化量。
试验数据处理:
1.样品在试验温度应力下,光通维持率至 70% 时的加速寿命
以光通量衰减(Pt/P0)为纵坐标,以试验时间为横坐标,描点划线,可得结温为 182℃下的拟合曲线如下图示。通过延长拟合曲线,可以外推得到结温为 182℃下光通量衰减到初始值 70% 的时间,即平均光通维持寿命为3950h。
2.样品工作在结温 80℃下的平均光通维持寿命
利用 3.1 得到的加速试验寿命和结温数据,按激活能0.42eV 的水平可以计算出结温 80℃下的光通维持寿命值。预测得出该 LED 在结温 80℃,光通量衰减到 70% 时的平均光通维持寿命为 79000h。
以上即是对对封装LED的寿命评估方法,如有试验疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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