《GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验》是中国国家标准，属于《GB/T 12085 光学和光学仪器 环境试验方法》系列标准的第5部分。

该标准规定了光学和光学仪器在低温、低气压环境下的综合试验方法，包括试验装置的要求、试验条件、试验步骤、试验过程中应注意的事项、试验结果的评定方法等内容。

一、范围：
本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验﹑试验程序及环境试验标记。
本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学，热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响。

二、试验设备：
高低温低气压试验箱

三、部分试验条件：
1. 试验箱(室)必须是空气流通的低气压或是高空模拟试验箱(室)，它可以是低温、低气压的综合试验箱(室)，也可将低气压箱放在低温室中。试验箱(室)的大小及试样安放的位置，应能保证所有试样都处于均匀的环境条件下。

2. 在试验箱(室)内，试样需先达到规定的试验温度，然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。

3. 按条件试验方法51(见4.2)进行试验时，在升压期间，可用高纯氮气或对试样辐射加热方法，避免试样上产生结霜和凝露。

在低温、低气压综合试验中，试验装置应能够提供符合要求的低温和低气压环境，同时保证试验过程的可控性和稳定性。试验条件包括试验温度、气压、试验时间等参数。

该标准适用于各种光学和光学仪器的环境试验，可用于产品研发、设计验证、生产检验等环节，也可用于产品质量评定和认证等方面。