常温固态硬盘BIT老化箱可以用于M2、SATA接口固态硬盘的BIT老化测试，常温BIT测试有多个测试项目，下面为大家做简单介绍。
常温固态硬盘BIT老化箱的测试项目：
测试设备：环仪仪器 常温固态硬盘BIT老化箱
测试依据：YD T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范
.jpg)
测试项目：
1.吞吐量：主要测硬盘的吞吐量和延迟，测试时间10min。
2.IOPS：测量硬盘的IOPS和时延，将读写比例分别设置为随机: 100%read、90%read10%write、70%read30%write 、 50%read50%write、30%read702write、10%read90% write、100%write。
3.写饱和测试（FIO）：测量被测设备对持续随机4KiB写的IOPS曲线，测试时间24h。
4.Trim前后比较测试：比较被测SSD在TRIM命令激活后的恢复能力（可选)，测试记录吞吐量、IOPS及对应时延的时间曲线。
5.交叉刺激恢复测试：主要测量SUT在不同相邻负载下的相互作用。
6.硬盘压力测试：测试硬盘在压力运行下的运行情况。
7.复位压力测试：测试硬盘复位能力，采用高脚自动化测试，重复1~3100次。
.jpg)
