可程序硬盘高低温度BIT老化箱的测试应用

固态硬盘（SSD）在生产过程中，需要进行一系列的试验，可程序硬盘高低温度BIT老化箱在SSD的应用中，是属于温湿度环境测试的一个重要试验项目，下面是该试验的过程。

测试环境：高温80℃／低温-40℃

测试样品：固态硬盘

测试依据：YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

测试流程：

1.BIT老化箱设置为128KB顺序写，队列深度32，运行BIT老化箱。

2.以不大于20℃/h的温降速度从常温到-40度。

3.被测硬盘-40℃环境中，静置72小时。

4.以不大于20℃/h 的温升速度从-40℃到 80℃。

5.被测硬盘80℃环境中，静置72小时。

6.以不大于20℃/h的温升速度，使环境温度从80℃降到25℃，静置24小时。

7.BIT老化箱设置为128KB顺序写，队列深度32，运行BIT老化箱。

8.比较步骤1、7的测试结果。

高低温测试中，筛选不合格的盘片，其中包括了焊接问题、颗粒问题、DRAM以及主控问题，通过BIT测试，能保证盘片在使用过程中稳定可靠。