半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。其作用主要对半导体元器件进行湿热存储、高温高湿试验，这些试验一般会使用到半导体元件恒温恒湿实验箱。
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半导体元件恒温恒湿实验箱在实际应用中，会涉及到以下标准：
1. GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存
2. IEC 60749-42:2014
3. JEDEC JESD22-A100E：2020 循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试
4. JEDEC JESD22-A101D.01：2021 稳态温度-湿度偏差寿命测试
5. EIAJ ED-4701 100：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法
下面结合半导体元件恒温恒湿实验箱，来聊聊一些相关试验。
1. 在《GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存》标准中，需要把半导体器件放置在试验箱中，做以下试验：
a. 40℃、90%RH，持续8000h的存储试验。
b. 60℃、90%RH，持续4000h的存储试验。
c. 85℃、85%RH，持续1000h的存储试验。
2. 在《JESD22-A100D 稳态温度-湿度偏差寿命测试》标准中，需要进行以下试验：
测试时间:1008（-24，+168）小时；
测试温度：30~65℃，但仅在65℃驻留；
测试湿度：90%~98%RH；
温度变化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;
以上两个标准中的试验，在使用半导体元件恒温恒湿实验箱时，只需要把测试产品放置在实验箱中，在控制器设置好温度、湿度、测试时间，就可以自动进行试验了。
